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アクシス・ネット技術コラム

技術コラムを連載でお届けいたします。
「ケースレー428−PROG型電流電圧変換アンプのエミュレーション・モード搭載したA4280高速電流電圧変換アンプ」の開発現場より、不定期でお送りします。
技術コラム : 太陽電池測定の基礎 (2)
投稿日時: 2010-11-28 0:05:13 (2424 ヒット)
CV測定について

太陽電池とは、電気的にはダイオードなのですが
ダイオードの特性評価としては、IV測定によるものが第一です。

薄膜太陽電池では、薄膜の評価方法としてCV測定があります。
半導体計測では、ドーピングの深さの評価に使われますが
薄膜の定量測定ができます。

シリコンの半導体では、測定する周波数は、100kHz 1MHzとなっていましたが
太陽電池では、スイッチングをしないのでさほど高くない周波数での測定でも良いと思います。

測定装置としては、高額な半導体パラメータ・アナライザもありますが、
1MHzまでのダイオードのCV測定であればLCRメータが最適な装置とも言えます。
(筆者としては、アジレントE4980をお勧めします。と言うかこれしかないと思っています)

実際、E4980では、プローバーを使用して100 mV以下の電圧での10pFの測定ができます。

なかなか、技術資料も少ないのですが、薄膜の性能評価としてCV測定は有用です。

特殊な場合も、アクシス・ネットにご相談ください。

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投稿者: ueda


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